PROCESSO. La microscopia ottica a scansione in campo prossimo (SNOM) è una tecnica di imaging ottico che consente di superare il limite di risoluzione della microscopia ottica, legato alla diffrazione della luce. In un microscopio SNOM il campione è illuminato attraverso una piccolissima apertura posta ad una distanza z << λ dalla sua superficie, ovvero nel cosiddetto campo prossimo (near-field), per mezzo di una sonda costituita da una fibra ottica appuntita con un’apertura terminale di 50 ÷ 150nm di dimensioni molto minori della lunghezza d’onda della luce impiegata. Le dimensioni dell’apertura fissano la risoluzione, che pertanto non è limitata dalla lunghezza d’onda della luce. Sfruttando la componente evanescente del campo elettromagnetico, la tecnica SNOM offre pertanto la possibilità di ottenere un potere risolutivo che in opportune condizioni sperimentali può essere anche maggiore di λ/10.

APPLICAZIONI. La microscopia SNOM ha applicazioni in microscopia e spettroscopia ottica dei materiali e viene impiegata per applicazioni di imaging di fluorescenza e micro-Raman nel campo della soft-matter, bio-fisica e nella scienza dei materiali.

STRUMENTAZIONE. Il microscopio in dotazione al LaNN è un WITEC Alpha-SNOM dotato di diversi obiettivi. Può essere utilizzato come SNOM, AFM e microscopio confocale, con risoluzione laterale da poche decine di nanometri fino ad alcune centinaia. Il sistema è dotato di due laser (150 mW Ar e 75 mW HeNe) e di uno spettrometro ottico che consente l'acquisizione di spettri micro-Raman e di fluorescenza nel range: 400-900nm. Dispone di 5 rivelatori: un CCD, due PMT e due APD per l'utilizzo della macchina in diverse configurazioni. E’ possibile raccogliere spettri single-spot, monitorare l'evoluzione degli spettri nel tempo ed ottenere mappe complete della superficie sia in campo vicino (SNOM) che in campo lontano (confocale Raman e luminescenza).